Search for content and authors
 

Stany Mn 3d w paśmie walencyjnym Ga1-xMnxSb

Bogdan J. Kowalski 1Robert Nietubyć 2Janusz Sadowski 1,3

1. Instytut Fizyki PAN, Al. Lotnikow 32/46, Warszawa 02668, Poland
2. Instytut Problemów Jądrowych im. Andrzeja Sołtana, Otwock-Świerk 05-400, Poland
3. Lund University, MAX-lab, Lund SE-221 00, Sweden

Abstract
Wkład stanów Mn 3d do pasma walencyjnego Ga1-xMnxSb, ważny czynnik determinujący, własciwości tego półprzewodnika, został określony za pomocą spektroskopii fotoemisyjnej. Badania metodą rezonansowej spektroskopii fotoemisyjnej, prowadzone w zakresie energii fotonów odpowiadającym wzbudzeniu Mn 3p-3d, pozwoliły zidentyfikować struktury widm odpowiadające emisji ze stanów Mn 3d. Zbadanie przebiegu pasma walencyjnego wzdłuż kierunku [100] zostało dokonane za pomocą kątowo-rozdzielczej spektroskopii fotoemisyjnej. Uzyskane wyniki wykazały, że bezdyspersyjna struktura obserwowana przy energii wiązania 3.8 eV (względem energii Fermiego) jest związana ze stanami Mn 3d.  

Ga1-xMnxSb jest rozcieńczonym półprzewodnikiem magnetycznym z grupy III-V wykazującym własności ferromagnetyczne, jednakże we względnie niskich temperaturach (TC=25 K [1]). Zapewne z tego względu był on badany znacznie mniej intensywnie niż Ga1-xMnxAs, jednak skupia na sobie uwagę ze względu na możliwość zbadania w nim oddziaływania jonów magnetycznych z anionami chemicznie odmiennymi od arsenowych a także ze względu na strukturę pasmową przydatną w konstrukcji nowych urządzeń elektronicznych, takich jak ferromagnetyczna rezonansowa dioda tunelowa  [2].

Eksperymenty fotoemisyjne były wykonywane za pomocą spektrometru fotoemisyjnego na linii 41 laboratorium synchrotronowego MAX-lab Uniwersytetu w Lund w Szwecji. Widma fotoemisyjne były zbierane w warunkach emisji normalnej dla energii fotonów z zakresu 30-51 eV (w celu obserwowania rezonansu Mn 3p-3d) oraz z zakresu 50-106 eV (w celu zbadania dyspersji pasm wzdłuż kierunku [100]). 

Badane próbki Ga1-xMnxSb przygotowywano metodą epitaksji z wiązek molekularnych w układzie bezpośrednio połączonym ze spektrometrem fotoemisyjnym. Były więc przenoszone do spektrometru w ultra wysokiej próżni, co zapobiegało adsorpcji zanieczyszczeń na powierzchni warstw i konieczności ich oczyszczania inwazyjnymi metodami wprowadzającymi ryzyko zaburzenia ich struktury i składu chemicznego. Warstwy epitaksjalne Ga1-xMnxSb o zawartości manganu od 1 do 3% hodowano na podłożach GaSb(100) we względnie niskiej temperaturze około 2300C. Wzrost metodą MBE był monitorowany za pomoca odbiciowej dyfrakcji wysokoenergetycznych elektronów (RHEED). Obrazy dyfrakcyjne odpowiadające dwuwymiarowemu wzrostowi (prążki) oraz wyraźne oscylacje refleksu zwierciadlanego RHEED obserwowano w ciągu całego procesu wzrostu, aż do osiągnięcia ich końcowej grubości (od 50 do 300 Å). Nie zaobserwowano także w obrazach RHEED żadnych przejawów tworzenia się wytrąceń obcej fazy (na przykład segregacji nanokryształów MnSb [3]). Powierzchnie (100) warstw Ga1-xMnxSb wykazywały obrazy dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) charakterystyczne dla asymetrycznej rekonstrukcji (1x3). Nieobecność wytrąceń MnSb w badanych próbkach została potwierdzona także przez badania porównawcze (z próbkami zawierającymi wytrącenia) przeprowadzone metodą skaningowej mikroskopii elektronowej.

Przeprowadzone badania otrzymały wsparcie finansowe w ramach projektu "European Community's Seventh Framework Programme (FP7/2007-2013) grant agreement no. 226716".

Referencje:

[1] F. Matsukura, E. Abe, H. Ohno, J. Appl. Phys. 87, 6442 (2000)

[2] I. Vurgaftman, J.R. Meyer, Appl. Phys. Lett. 82, 2296 (2003)

[3] K. Lawniczak-Jablonska, A. Wolska, M.T. Klepka, S. Kret, J. Gosk, A. Twardowski, D.Wasik, A. Kwiatkowski, B. Kurowska, B.J. Kowalski, J. Sadowski, J. Appl. Phys. 109, 074308 (2011)

 

Legal notice
  • Legal notice:
 

Related papers

Presentation: Poster at IX Krajowe Sympozjum Użytkowników Promieniowania Synchrotronowego, by Bogdan J. Kowalski
See On-line Journal of IX Krajowe Sympozjum Użytkowników Promieniowania Synchrotronowego

Submitted: 2011-07-25 14:52
Revised:   2011-07-26 15:27