W paragrafach 2.3.2 i 2.3.4 aby wyprowadzic równanie Scherrera porównywalismy wyrazenie na profil linii dyfrakcyjnej z poowa jego wysokosci. Teraz postapimy podobnie, z tym, ze chwilowo zamiast staej przed wysokoscia profilu postawimy wspóczynnik h, któremu dopiero pózniej przypiszemy wartosc h = . To uogólnienie zostanie wykorzystane w nastepnych paragrafach. O proszku zakadamy, ze jego rozkad wielkosci ziaren jest postaci (2.43). Dla uproszczenia równan posugiwac sie bedziemy profilem linii (2.53) w zmiennych R0 i m, przechodzac na samym koncu do zmiennych < R > i .
Porównujac wyrazenie na profil linii dyfrakcyjnej proszku o niezerowej dyspersji rozkadu wielkosci ziaren (2.53) z uamkiem wysokosci tej linii h (2.54) otrzymujemy:
zas rozwijajac lewa strone:. | |||
31 + q2R022 + q2R02(m - 1)(m - 2) | |||
-61 + q2R02cos(m - 2)arctan qR0 | (2.58) | ||
- 6qR01 + q2R02(m - 2)sin(m - 1)arctan qR0 | = | h. |
. | |||
1 + q2R028 - q2R02hq2R02m(m + 1) - 4(m - 1)(m - 2) | |||
-81 + q2R02cos(m - 2)arctan qR0 | (2.59) | ||
- 8qR01 + q2R02(m - 2)sin(m - 1)arctan qR0 | = | 0 |
. | |||
1 + x28 - x2hx2m(m + 1) - 4(m - 1)(m - 2) | |||
-81 + x2cos(m - 2)arctan x | (2.60) | ||
-8x1 + x2(m - 2)sin(m - 1)arctan x | = | 0 |
1 + x28 - x2hx2m(m + 1) - 4(m - 1)(m - 2) | |||
-81 + x2cos(m - 2)arctan x | (2.61) | ||
-8x1 + x2(m - 2)sin(m - 1)arctan x | = | 0 |
|
FWHM( < R > ,) = q | = | K | |
= | 0.000585 | ||
+0.004636 . ctg(0.002288 + 0.00135m) | |||
= | 0.000585 | (2.68) | |
+0.004636 . ctg0.002288 + 0.00135 - 1 |
|
Sens zaleznosci przedstawionej na rys. 2.26 mozna wyrazic nastepujaco: wartosc staej Scherrera zalezy od wzglednej szerokosci rozkadu wielkosci ziaren. Co wiecej, w realnie obserwowanych przypadkach zaleznosc ta jest bardzo silna. Na przykad nanokrystaliczne proszki SiC swiezo po syntezie (nie poddane zadnej segregacji) maja stosunek w zakresie 1÷1.4, co wypada w przedziale silnej zmiennosci staejtypeset@protect @@footnote SF@gobble@opt Okreslenie ``silna zmiennosc staej'' jest wewnetrznie sprzeczne, jednak brak odwagi do wypromowania nowego nazewnictwa (np. ``wspóczynnik Scherrera'') kaze nam pozostac przy istniejacym. Scherrera. Stosunek ten jest dla materiaów tego samego pochodzenia zawsze podobny (por. §3.3), niezaleznie od wielkosci zsyntetyzowanych krystalitów. Zmienia go dopiero intencjonalna segregacja (frakcjonowanie). Wyobrazmy sobie, ze zsyntetyzowalismy krystaliczny proszek posiadajacy pewien rozrzut wielkosci ziarna. Przy pomocy ukadu sit rozdzielamy go na frakcje o coraz precyzyjniej okreslonych rozmiarach ziaren. Jednoczesnie przy pomocy dyfrakcji proszkowej i równania Scherrera staramy sie okreslac sredni rozmiar ziarna w kolejnych frakcjach. Okazuje sie niestety, ze dla kazdej frakcji powinnismy brac inne stae Scherrera: mniejsze na poczatku rozdzielania, kiedy proszek jest jeszcze mieszanina ziaren róznych wielkosci (od, powiedzmy, K = 0.5) a wieksze dla frakcji prawie monodyspersyjnych (do K = 1.1), gdyz K zalezy wasnie od szerokosci rozkadu wielkosci ziaren.
Pod znakiem zapytania stoja próby dokadnego oznaczania wielkosci ziaren ta metoda w ogóle, skoro do precyzyjnego wyznaczenia wielkosci ziarna potrzeba dokadnie znac wartosc K, a ta zmienia sie w funkcji szerokosci rozkadu wielkosci ziaren, którego wasnie szukamytypeset@protect @@footnote SF@gobble@opt Sredni rozmiar ziarna jest jednym z parametrów rozkadu wielkosci ziaren. . Poniewaz K moze zmieniac sie w szerokich granicach, od ok. 0.5 az do 1.1, a wiec nawet dwa razy, taki tez jest mozliwy bad oznaczenia sredniego rozmiaru krystalitów ta metoda.
Trzeba jednak powiedziec, ze dopóki nie przeszkadza nam bad pomiaru sredniej wielkosci ziarna na poziomie, przecietnie, kilkudziesieciu procent, metoda Scherrera jest chyba najlepsza istniejaca, a równiez najprostsza i niezwykle elegancka. Z przedstawionych przykadów wynika jednak, ze pomocna byaby mozliwosc wyznaczania z danych dyfrakcyjnych obu parametrów rozkadu wielkosci ziaren: jego wartosci sredniej i dyspersji. I to nie tylko dla ograniczenia bedu pomiaru sredniego rozmiaru ziaren ale gównie dla znalezienia rozrzutu ich wielkosci.
roman pielaszek 2003-01-13