Search for content and authors |
IGHT - narzędzia dla nanotechnologii |
Ignacy Mościcki |
IGHT s.c., Marszałkowska 80, Warszawa 00-517, Poland |
Abstract |
Firma IGHT jest młodą firmą założoną przez ludzi zafascynowanych nowoczesnymi rozwiązaniami sprzętu laboratoryjnego, a w szczególności służącego nanotechnologii. Ta fascynacja uwidacznia się w doborze sprzętu, jaki znajduje się w naszej ofercie. Dokładamy wszelkich starań, aby rozwiązania, które sprowadzamy do Polski były jedyne w swoim rodzaju, najnowocześniejsze i najbardziej innowacyjne w swojej klasie. Doskonałym przykładem są dwaj nasi najwięksi partnerzy: NT-MDT oraz HYSITRON. NT-MDT jest producentem systemów SPM (Scanning Probe Microscopy), który wyróżnia się unikalnym podejściem do swoich urządzeń. Są to systemy modułowe: można rozpocząć od prostej głowicy SPM i rozwinąć system do ponad czterdziestu technik SPM, mikroskopii optycznej, konfokalnej laserowej, a nawet badań TERS (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy). Pozwala to na tworzenie doskonałych, uniwersalnych laboratoriów, które można przekonfigurować z badań np. materiałowych na chemiczne lub biologiczne w ciągu paru godzin. Najnowszy system Solver NEXT stanowi unikalne rozwiązanie w pełni zautomatyzowanego urządzenia do badań SPM. Hysitron jest liderem w badaniach właściwości mechanicznych w skali mikro i nano (zarówno nm jak i nN), a ich urządzenia wykraczają daleko poza standardowe pojęcie nanoindentacji. Systemy TriboIndenter pozwalają na prawdziwe ilościowe pomiary nanomechaniczne, a nie wyłącznie badania jakościowe. Z kolei PicoIndenter przenosi pomiary właściwości mechanicznych w świat mikroskopii elektronowej. Nowością w ofercie naszej firmy są systemy mikroskopii elektronowej Evex MiniSEM. Przy gabarytach komputera typu desktop oraz za ułamek ceny dużych skaningowych mikroskopów elektronowych otrzymujemy mikroskop SEM o mocy 30 keV z opcją mappingu EDS. |
Legal notice |
|
Related papers |
Presentation: Oral at Nanotechnologia PL, by Ignacy MościckiSee On-line Journal of Nanotechnologia PL Submitted: 2010-06-14 14:21 Revised: 2010-06-14 14:21 |