Rozpraszanie niskokatowe (Small Angle Scattering, SAS) promieni rentgenowskich (Small Angle X-Ray Scattering, SAXS) lub neutronów (Small Angle Neutron Scattering, SANS) jest metoda pozwalajaca badac mikrostrukture obiektów o rozmiarach do kilkudziesieciu nm. W odróznieniu od dyfrakcji wysokokatowej, obiektami rozpraszajacymi sa tu nie atomy a cae ziarna obecne w proszku. SAS nie jest wiec czuy na strukture atomowa - pokazuje budowe proszku, srednie relacje geometryczne pomiedzy ziarnami (na co nie jest czua dyfrakcja wysokokatowa). Eksperymenty SAS sa w istocie identyczne z doswiadczeniami dyfrakcji wysokokatowej (rys. 1.11), z ta tylko róznica, ze w SAS mierzymy tylko jedna linie dyfrakcyjna (o indeksie hkl = 000) i w konstruktywnej interferencji biora udzia wszystkie atomy próbki - stad natezenia ogromne w porównaniu z maksimami bragowskimi. Specyfika pomiaru linii (000) jest obecnosc w mierzonej wiazce obok promieniowania rozproszonego na próbce, takze nierozproszonej wiazki pierwotnej (promieniowania przechodzacego bez oddziaywania z próbka). Obszar katowy, w którym oba strumienie fotonów sie mieszaja jest bezuzyteczny i zatrzymuje sie go na chwytce. Ogranicza to od dou najmniejszy osiagalny pomiarowo kat ugieciatypeset@protect @@footnote SF@gobble@opt Problemów technicznych przy pomiarach SAS jest oczywiscie wiecej. Gówne to rozpraszanie na powietrzu i krawedziach szczelin definiujacych wiazke. . Doswiadczenia SAS sa szczególnie uzyteczne przy badaniach zageszczania proszków nanokrystalicznych. Z racji opisanych ograniczen (najlepsze stacje SAS pozwalaja mierzyc natezenia ugiete pod katami odpowiadajacymi wektorowi rozpraszania nie mniejszemu od 0.001 Å-1, rys. 1.11), w praktyce mozna okreslic srednie otocznie krystalitów proszku nie dalej niz na odlegosc 3 - 4 sasiadów.
|
roman pielaszek 2003-01-13