W pracy niniejszej korzystano z czterech metod doswiadczalnych pomocnych w badaniach mikrostruktury: mikroskopii elektronowej (Scanning Electron Microscopy SEM), pomiarów powierzchni wasciwej (Specific Surface SS), proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej (X-Ray Diffraction XRD) i niskokatowego rozpraszania promieni rentgenowskich i neutronów (Small Angle Scattering SAS). Dwie pierwsze metody dostarczaja wyników samowyjasniajacych (fotografie, wartosc powierzchni wasciwej) i nie beda dokadniej omawiane. O obu zas metodach dyfrakcyjnych trzeba powiedziec, ze sa komplementarne i razem daja komplet informacji mikrostrukturalnej: