Podsumowanie rozdziau

W rozdziale zaprezentowano sposoby uzycia opracowanych metod do analizy praktycznych zagadnien.

• Korzystajac z informacji zawartych w czesci teoretycznej pokazano, ze metoda Warrena-Averbacha w przypadku proszków z szerokimi rozkadami wielkosci ziaren prowadzi do bednych wyników, nawet w przypadku, gdy dane nie sa obarczone bedem pomiarowym.
• Obliczenia ab initio poaczone z dopasowaniem danych doswiadczalnych (np. przy pomocy algorytmu genetycznego) pozwalaja otrzymac peny opis struktury atomowej i mikrostruktury materiaów nanometrowych. Taka analize mozna stosowac do proszków, które poddawane sa dalszym badaniom, np. spiekaniu badz okreslaniu wpywu wielkosci ziarna na wasnosci fizyczne nanomateriaów.
• Do analizy duzych ilosci danych doswiadczalnych mozna stosowac prosta metode `` FW${\frac{{1}}{{5}}}$/${\frac{{4}}{{5}}}$M''. Wyznacza ona peny rozkad wielkosci ziaren, ale jest wrazliwa na znieksztacenia linii dyfrakcyjnych pochodzacych np. od bedów uozenia (wady tej nie maja obliczenia ab initio, które jednak sa trudniejsze obliczeniowo).
• Analiza rozpraszania niskokatowego (SAS) pozwala na badanie uozenia ziaren, w tym fraktali, w nanoproszku. Ilosciowe informacje o procesie pekania sie ancuchów fraktali w nanoproszku maja podstawowe znaczenie w projektowaniu procesów produkcji supertwardych ceramik nanometrowych.
• Obliczenia teoretyczne dyfrakcji pozwalaja sledzic metodami dyfrakcyjnymi zozone procesy w zachodzace w ziarnach nanometrowych. Pokazano na przykad, ze nanokrysztay GaN w wysokim cisnieniu niehydrostatycznym ulegaja odksztaceniom plastycznym powodowanym przez relaksacje naprezen ich sieci krystalicznej. Symulacja tego procesu oparta na prostym modelu przesuniec warstw (0001) w poaczeniu z obliczeniami ab initio dyfrakcji na modyfikowanych strukturalnie nanoziarnach pozwala wiernie odtworzyc obserwowane doswiadczalnie, silnie znieksztacone wysokocisnieniowe krzywe dyfrakcyjne.