Zapewnienie trwałości maszyn i urządzeń oraz niezawodności ich działania, wymaga zwiększenia odporności na zużycie materiału, z którego wytworzone są poszczególne części  poprzez zastosowanie cienkich powłok o korzystnych właściwościach mechanicznych, tribologicznych i korozyjnych.

      We współczesnej technologii znaczącą rolę odgrywają materiały bazujące na węglu , który może krystalizować w diamentowe lub grafitowe formy. Przez pojęcie powłoki diamentopodobne  DLC (diamond-like carbon coatings) rozumie się ogromną liczbę amorficznych, w  większości przypadków uwodornionych, cienkowarstwowych materiałów o różnych właściwościach zależnych od metody i warunków ich otrzymywania.

Ważnym elementem podczas kompleksowych badań wpływu cienkich powłok na właściwości systemów tribologicznych są pomiary struktury geometrycznej powierzchni prowadzone na różnych etapach analiz obejmujące:

v  Pomiary grubości powłok

v  Ocenę struktury geometrycznej powierzchni z naniesioną powłoką

v  Obrazowanie rysy uzyskanej w trakcie badań adhezji metodą zarysowania ( scratch test)

v  Ocena struktury geometrycznej powierzchni elementów węzła tarcia (kulka –tarcza)  po badaniach tribologicznych

Ze względu na to, że stan struktury geometrycznej powierzchni jest jednym z ważniejszych czynników decydujących o właściwościach mających wpływ na funkcjonowanie elementów takich jak zdolności ślizgowe, smarujące, odporność na ścieranie, wytrzymałość zmęczeniowa, przewodnictwo cieplne i elektryczne, odporność na korozję, szczelność i sztywność połączeń następuje stały rozwój metod i przyrządów służących do pomiarów przestrzennych zarysów nierówności powierzchni.

Najważniejszymi metodami służącymi do pomiaru stereometrii powierzchni są: profilometria stykowa z ostrzem odwzorowującym, interferometria z przesunięciem fazy, interferometria skaningowa koherentna, mikroskopia konfokalna, mikroskopia konfokalna chromatyczna, mikroskopia holograficzna, mikroskopia tunelowa skaningowa oraz mikroskopia sił atomowych.

Każda z tych metod charakteryzuje się innym zakresem możliwości pomiarowych wynikającymi z rozdzielczości w poszczególnych osiach, zakresami pomiarowymi, możliwościami penetracji nierówności uzależnionymi od ich geometrii czy oddziaływaniem na powierzchnię mierzonego przedmiotu.

Spośród wielu metod pomiarów stereometrii powierzchni do oceny powłok DLC  zastosowano następujące metody: profilometrię stykową, koherentną interferometrię korelacyjną i mikroskopię sił atomowych. 

• Legal notice:
  

  Copyright (c) Pielaszek Research, all rights reserved.
  The above materials, including auxiliary resources, are subject to Publisher's copyright and the Author(s) intellectual rights. Without limiting Author(s) rights under respective Copyright Transfer Agreement, no part of the above documents may be reproduced without the express written permission of Pielaszek Research, the Publisher. Express permission from the Author(s) is required to use the above materials for academic purposes, such as lectures or scientific presentations.
  In every case, proper references including Author(s) name(s) and URL of this webpage: https://science24.com/paper/31250 must be provided.