Mikrotomografy rentgenowskie Xradia (Micro XCT) pozwalają na nieniszczącą charakteryzację materiałów. Możliwa jest analiza różnych materiałów z dużą rozdzielczością (nawet do 50 nm) i doskonałym kontrastem. Badany obiekt możemy przedstawic w postaci filmów 3D lub zdjęc przekroju poprzecznego. Zaawansowane oprogramowanie umożliwia ponadto dokonywanie analizy uzyskanych wyników obrazów i analizy statystycznej. Systemy Xradia pracują z powodzeniem w takich aplikacjach jak mikroelektronika, inżynieria materiałowa, medycyna, geologia.

• Legal notice:
  

  Copyright (c) Pielaszek Research, all rights reserved.
  The above materials, including auxiliary resources, are subject to Publisher's copyright and the Author(s) intellectual rights. Without limiting Author(s) rights under respective Copyright Transfer Agreement, no part of the above documents may be reproduced without the express written permission of Pielaszek Research, the Publisher. Express permission from the Author(s) is required to use the above materials for academic purposes, such as lectures or scientific presentations.
  In every case, proper references including Author(s) name(s) and URL of this webpage: https://science24.com/paper/25057 must be provided.