Przy pomocy metod obliczeniowych opisanych w rozdziale 2.2, w szczególnosci korzystajac z usredniania jednowymiarowego nieuporzadkowania z uzyciem wielowarstwowej funkcji rozkadu radialnego MLRDF(R) (§2.2.4), mozna obliczyc dyfraktogram nanoproszku zozonego z krystalitów o róznych wielkosciach (GSD) i jednoczesnie zawierajacych bedy uozenia zdefiniowane statystycznie poprzez prawdopodobienstwo ich wystapienia.
Obliczenia dokonywane sa przez program rpnanotypeset@protect
@@footnote
SF@gobble@opt
Pakiet rpnano dostepny jest pod adresem http://www.unipress.waw.pl/pielasze.
, bedacy implementacja algorytmów opisanych w rozdziale 2.2.
Stosowany rozkad wielkosci ziaren jest log-normalny (por. paragraf 2.2.3)
i posiada dwa parametry: poozenie maksimum Rmax i dyspersje
. Trzecia zmienna jest parametr heksagonalnosci,
P(h), bedacy prawdopodobienstwem znalezienia warstwy typu h
w krysztale (por. 2.2.4). Po ustaleniu
wartosci powyzszych trzech parametrówtypeset@protect
@@footnote
SF@gobble@opt
Niekiedy konieczne jest dodatkowo podanie wartosci czynnika temperaturowego
B.
obliczany jest metoda ab initio dyfraktogram proszkowy badanego
materiau. Trwa to od jednej do dwóch sekund. Opisany pojedynczy cykl
obliczeniowy zamkniety jest w petli kontrolowanej przez algorytm genetyczny.