- Wyprowadzenie wzoru Debye'a dla krysztaów opisujacego dyfraktogram
proszkowy jako splot poozen linii bragowskich i profilu linii, bedacego
transformata dystrybucji ksztatu krystalitu.
- Wyprowadzenie analitycznego i skadajacego sie wyacznie z funkcji
elementarnych wzoru na profil linii dyfrakcyjnej proszku z rozkadem
wielkosci ziaren.
- Ilosciowa analiza wielkosci otrzymywanych metoda Warrena-Averbacha
dla proszków z rozrzutem rozmiarów ziaren i ustalenie granic stosowalnosci
tej metody.
- Opracowanie nowej metody wyznaczania penego rozkadu wielkosci ziaren
z szerokosci linii dyfrakcyjnej w
i
jej wysokosci.
- Doswiadczalne stwierdzenie zwiazku pomiedzy postacia rozkadu wielkosci
ziaren a technika otrzymywania materiau: badane nanoproszki SiC
i diamentu posiadaja stay dla metody ich otrzymywania stosunek
(wartosci sredniej do szerokosci rozkadu
wielkosci ziaren).
roman pielaszek
2003-01-13